HIOKI IR5051

5kV Isolationstester zur Prüfung von PV Anlagen

Das tragbare Hochspannungs-Isolationsprüfgerät IR5051 kombiniert traditionelle Isolationsmessfunktionen mit einem speziellen PV-Modus, der Isolationswiderstandsmessungen an Photovoltaikanlagen während der aktiven Stromerzeugung ermöglicht. Das Gerät stellt fünf Prüfspannungen im Bereich von 250 V bis 5 kV zur Verfügung sowie sieben Messbereiche für Isolationswiderstände zwischen 10 MΩ und 10 TΩ.
Der physikalisch getrennte Messbereich für die Isolationsprüfung an Photovoltaikanlagen macht den IR5051 besonders. Mit diesem speziellen Bereich können an PV-Systemen Isolationswiderstandsmessungen mit Prüfspannungen von bis zu 2000 V und Messbereichen von bis zu 100 GΩ durchgeführt werden. Der wesentliche Vorteil besteht darin, dass es nicht erforderlich ist, auf die Nacht zu warten oder die Stromerzeugung zu unterbrechen – der IR5051 kann auch tagsüber und während der Energieproduktion Isolationsmessungen an PV-Anlagen vornehmen. Und das in lediglich 4 Sekunden – ein wesentlicher Vorzug, vor allem bei mehreren hundert Messpunkten auf größern PV Anlagen.

Das kompakte, leichte Design macht den IR5051 zu einem idealen Werkzeug für den mobilen Einsatz. Der mitgelieferte Hartschalenkoffer schützt das Gerät zuverlässig vor Staub und Wasser in IP65-Umgebungen. Mit einer maximalen Nennspannung von 2000 V in Messkategorie CAT III ist das Gerät für sichere Messungen an entsprechend klassifizierten PV-Systemen ausgelegt. Eine automatische Entladefunktion erhöht die Sicherheit, indem sie nach der Messung vorhandene Restladungen ableitet. Abgeschirmte Messleitungen und eine Guard-Schaltung minimieren Störeinflüsse und sorgen für stabile, zuverlässige
Messergebnisse.
Isolationswiderstandswerte sind für eine sofortige Einschätzung nützlich, reichen jedoch nicht aus, um Alterung, Feuchtigkeitseinfluss oder Verunreinigungen detailliert zu bewerten. Zudem schwankt der Isolationswiderstand mit Temperatur und Luftfeuchtigkeit, sodass eine einzelne Messung keine verlässliche Aussage über die langfristige Veränderung der Isolationseigenschaften zulässt. Der IR5051 verfügt über Messfunktionen für den Polarisation Index (Polarization Index, PI), das Dielektrische Absorptionsverhältnis (Dielectric Absorption Ratio, DAR) und die Dielektrische Entladung (Dielectric Discharge, DD), um eine umfassendere Beurteilung des Isolationszustands zu ermöglichen.
Der Polarisation Index (PI) bewertet den zeitlichen Verlauf des Isolationswiderstands und liefert Hinweise auf Alterung und Verschmutzung. Das Absorptionsverhältnis (DAR) erlaubt eine schnelle Einschätzung der Auswirkungen von Feuchtigkeit und Verunreinigungen. Die Funktion zur dielektrischen Entladung (DD) erkennt Alterungsprozesse im Inneren des Isoliermaterials, indem sie das Entladeverhalten gespeicherter elektrischer Ladungen erfasst. Durch die Kombination dieser Prüfmethoden ermöglicht der IR5051 eine präzisere Isolationsdiagnose, erhöht die Betriebssicherheit von Anlagen und senkt das Ausfallrisiko.
Der IR5051 kann mit dem optional erhältlichen Bluetooth-Adapter Z3210 ausgestattet werden. In Verbindung mit dem Adapter lassen sich Messdaten drahtlos an einen PC oder ein Tablet übertragen – zur vereinfachten Datenspeicherung

 

  • Prüfspannung einstellbar von 250 V bis 5 kV in 10/25V Schritten
  • Durch die Verwendung von geschirmten Leitungen ist eine stabile Isolationsmessung bis zu 10 TOhm möglich
  • Spezielle PV Isolationsmessung zur sicheren Messung der Isolation an PV Anlagen (bis zu 2000V) auch während des Betriebes
  • Diagnosefunktionen wie Step Voltage (Erhöhung der Spannung in 5 Schritten), Rampenfunktion, Timer und Komparator
  • Berechnung von PI Polarisations Index, DAR Dielectric Absorption Rate sowie DD Dielectric Discharge
  • USB Schnittstelle sowie kabellose Datenübertragung via Z 3210 Wireless Adapter
  • Kostenlose Gennect Cross APP für iOs und Android
  • Betriebstemperatur von -20°C to 50 °C
  • bis zu 5 Stunden Betriebsdauer
  • Lieferumfang inkl. C2012 Koffer (IP65), geschirmten Messleitungen sowie Krokodilklemmen und Prüfspitzen

 

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